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濺射是半導(dǎo)體制造中一道不可或缺的工序，用以制備薄膜材料。在實(shí)際生產(chǎn)中通過(guò)使用離子轟擊的方式將靶材上的原子逸出至單晶硅基板上，形成金屬薄膜。 靶材是濺射工藝中使用中的關(guān)鍵核心材料。目前靶材行業(yè)被美日大企業(yè)壟斷把控，其他廠商想要在激烈的競(jìng)爭(zhēng)中脫穎而出，就需要在技術(shù)、質(zhì)量實(shí)力后來(lái)居上。
葉片在汽輪機(jī)、航空工業(yè)等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，發(fā)揮著重大作用。隨著技術(shù)、經(jīng)濟(jì)的發(fā)展，相關(guān)設(shè)備的性能越來(lái)月先進(jìn)，同時(shí)汽輪機(jī)的結(jié)構(gòu)也更為復(fù)雜，因而葉片測(cè)量的重要性就越發(fā)凸顯。
三坐標(biāo)迭代法坐標(biāo)系的創(chuàng)建辦法簡(jiǎn)介 對(duì)于葉片、薄壁片等沒(méi)有足夠常規(guī)特征或基準(zhǔn)點(diǎn)的工件來(lái)說(shuō)，適合用迭代法建三坐標(biāo)測(cè)量。
三坐標(biāo)作為一種精密儀器，其原理簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)即對(duì)工件進(jìn)行坐標(biāo)數(shù)值采集，逆合成各種測(cè)量元素后再進(jìn)行位置公差等數(shù)值計(jì)算的儀器。下面對(duì)此進(jìn)行展開(kāi)描述，與大家一同認(rèn)識(shí)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x。
隨著制造技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)要求的發(fā)展，傳統(tǒng)的測(cè)量工具如游標(biāo)卡尺等已經(jīng)越來(lái)越難以滿足測(cè)量需求。高精密的測(cè)量?jī)x器在越來(lái)越多制造企業(yè)上得到應(yīng)用。在二維測(cè)量角度上，有影像測(cè)量?jī)x
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