產(chǎn)品工藝的技術(shù)更新，帶來新的測量設(shè)備要求，尤其對于產(chǎn)品復(fù)雜曲面、曲線的測量要求。傳統(tǒng)三坐標(biāo)打點擬合的方法已經(jīng)無法滿足要求。

    思瑞 CROMA PLUS 三坐標(biāo)測量機(jī)十年暢銷鑒證匠心質(zhì)造。利用先進(jìn)的掃描測頭系統(tǒng)與業(yè)內(nèi)較好的測量軟件為您帶來全新的掃描體驗！

CROMA PLUS三坐標(biāo)測量機(jī)被廣泛應(yīng)用于各大制造行業(yè)，針對不同類型的產(chǎn)品，CROMA PLUS 在標(biāo)準(zhǔn)打點的基礎(chǔ)上可提供以下多種掃描方式；

01、開線掃描

     開線掃描設(shè)置好起點、方向點和終點以計算切割平面,然后將會掃描敞開直線上的曲面。

02、閉線掃描

    閉線掃描會在指定的起點開始掃描并在此處完成掃描，這對于掃描圓或者槽特征很實用；

03、曲面掃描

      設(shè)置好起點方向點和終點，控制好點密度即可完成對曲面的掃描。

04、周邊掃描

    周邊掃描可以實現(xiàn)幾個連續(xù)相鄰曲面邊界的邊緣掃描，也可以偏置一定的距離掃描；

05、旋轉(zhuǎn)掃描

     旋轉(zhuǎn)掃描是從給定的點開始以指定的半徑圍繞此點掃描平面。

06、3點線掃描

07、曲線掃描

    在測量完成后，會自動生成多種詳細(xì)的分析報告，直觀的呈現(xiàn)產(chǎn)品加工中的誤差。同時測量數(shù)據(jù)可介入Q-DAS等質(zhì)量數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)，為后續(xù)改善加工過程提供數(shù)據(jù)支持。

    思瑞 CROMA PLUS三坐標(biāo)測量機(jī)是一款靈動自如的通用型三坐標(biāo)測量機(jī)，豐富的探測系統(tǒng)，可匹配多種測量機(jī)測頭、測座、測頭更換架及附件，幫助用戶更快速精確的完成各項測量任務(wù)。更多詳情何不關(guān)注思瑞官網(wǎng)。